額定電壓0.6/1kV及以下云母帶礦
2024-08-28
背散射分析檢測(cè)報(bào)告如何辦理?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),嚴(yán)格按照背散射分析檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè),找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。
涉及背散射分析的標(biāo)準(zhǔn)有14條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中,背散射分析涉及到分析化學(xué)。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中,背散射分析涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器。
GB/T 41076-2021微束分析 電子背散射衍射 鋼中奧氏體的定量分析
GB/T 38532-2020微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)定
GB/T 34172-2017微束分析 電子背散射衍射 金屬及合金的相分析方法
GB/T 30703-2014微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則
GB/T 19501-2013微束分析 電子背散射衍射分析方法通則
GB/T 19501-2004電子背散射衍射分析方法通則
ISO 23749:2022微束分析.電子背散射衍射.鋼中奧氏體的定量測(cè)定
ISO 23703:2022微束分析.用電子背散射衍射(EBSD)評(píng)估奧氏體不銹鋼機(jī)械損傷的取向分析指南
ISO 24173:2009微光束分析.用電子背散射衍射進(jìn)行定向測(cè)量的指南
GOST R ISO 13067:2016確保測(cè)量一致性的國(guó)家系統(tǒng). 微束分析. 電子背散射衍射. 平均粒度的測(cè)量
DIN ISO 24173:2013微光束分析.使用電子背散射衍射進(jìn)行定向測(cè)量的指南(ISO 24713-2009)
NF X21-014-2012微束分析.電子背散射衍射.平均粒度的測(cè)量
NF X21-011-2009微光束分析.應(yīng)用電子背散射衍射定向測(cè)量的指南
BS ISO 13067:2011微光束分析.背散射電子衍射.平均顆粒粒度測(cè)量
一般3-10天出報(bào)告,有的項(xiàng)目1天出報(bào)告,具體根據(jù)背散射分析檢測(cè)項(xiàng)目而定。
一般背散射分析檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
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