檢測內(nèi)容

半導(dǎo)體可靠性測試檢測報(bào)告如何辦理？檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照半導(dǎo)體可靠性測試檢測相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實(shí)檢測。

涉及半導(dǎo)體可靠性測試的標(biāo)準(zhǔn)有8條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，半導(dǎo)體可靠性測試涉及到半導(dǎo)體分立器件。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，半導(dǎo)體可靠性測試涉及到半導(dǎo)體分立器件綜合。

國際電工委員會，關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測試的標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-30-2020半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候測試方法 - 第30部分:在可靠性測試之前對非密封性表面貼裝器件進(jìn)行預(yù)處理

IEC 60749-30:2020半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候測試方法 - 第30部分:在可靠性測試之前對非密封性表面貼裝器件進(jìn)行預(yù)處理

IEC 60749-43-2017半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候測試方法 - 第43部分:Ic可靠性資格認(rèn)證計(jì)劃指南

IEC 60749-30 Edition 1.1:2011半導(dǎo)體器件的機(jī)械和環(huán)境試驗(yàn).第30部分:非密封表面安裝設(shè)備可靠性測試前的預(yù)處理

IEC 60749-30 AMD 1:2011半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第30部分:先于可靠性測試的非密封性表面貼裝設(shè)備的預(yù)處理

IEC 60749-30-2005半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候測試方法 - 第30部分:在可靠性測試之前對非密封性表面貼裝器件進(jìn)行預(yù)處理

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測試的標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 60749-30-2011半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第30部分:可靠性測試前非密封表面安裝設(shè)備預(yù)處理(IEC 60749-30-2005+A1-2011).德文版 EN 60749-30-2005+A1-2011

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測試的標(biāo)準(zhǔn)

BS EN 60749-30-2005半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第30部分:可靠性測試之前非氣密表面安裝器件的預(yù)調(diào)試

檢測時(shí)間周期

一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)半導(dǎo)體可靠性測試檢測項(xiàng)目而定。

檢測報(bào)告有效期

一般半導(dǎo)體可靠性測試檢測報(bào)告上會標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會標(biāo)注有效期。

檢測流程

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