檢測內(nèi)容

x射線顯微檢測報(bào)告如何辦理？檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照x射線顯微檢測相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試和評(píng)估。做檢測，找百檢。我們只做真實(shí)檢測。

涉及x射線顯微的標(biāo)準(zhǔn)有16條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線顯微涉及到光學(xué)和光學(xué)測量、分析化學(xué)、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、計(jì)量學(xué)和測量綜合、醫(yī)療設(shè)備。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線顯微涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、物理學(xué)與力學(xué)、化學(xué)、醫(yī)用射線設(shè)備、醫(yī)療器械綜合。

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線顯微的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 32869-2016納米技術(shù) 單壁碳納米管的掃描電子顯微術(shù)和能量色散X射線譜表征方法

GB/T 20726-2015微束分析電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線顯微的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1588-17采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E1588-16a采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E1588-16采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-10e1掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線顯微的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 17470:2014微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長分散X射線光譜測定法的定性點(diǎn)分析指南

BS ISO 15632:2012微束分析. 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)

BS EN 61223-3-1-1999醫(yī)療成像部門的評(píng)定及常規(guī)試驗(yàn).驗(yàn)收試驗(yàn).輻射照相和輻射顯微照相系統(tǒng)用X射線設(shè)備的成像性能

廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線顯微的標(biāo)準(zhǔn)

DB44/T 1215-2013利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性

DB44/T 1216-2013利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征石墨烯的特性

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于x射線顯微的標(biāo)準(zhǔn)

JIS K0189-2013微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測定

JIS K0190-2010微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線顯微的標(biāo)準(zhǔn)

NF X21-003-2006微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測量法定量分析指南

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線顯微的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 17470:2004微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線顯微的標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 61223-3-1-2001醫(yī)院放射科評(píng)定和常規(guī)試驗(yàn).第3-1部分:驗(yàn)收試驗(yàn).輻射照相和輻射顯微照相系統(tǒng)用X射線設(shè)備成像性能

檢測時(shí)間周期

一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)x射線顯微檢測項(xiàng)目而定。

檢測報(bào)告有效期

一般x射線顯微檢測報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測流程

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