檢測內容

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涉及ecl為何的標準有38條。

國際標準分類中，ecl為何涉及到集成電路、微電子學、無線通信、輻射測量、核能工程、電子電信設備用機電元件、光纖通信、信息技術應用、航空航天發(fā)動機和推進系統(tǒng)。

在中國標準分類中，ecl為何涉及到半導體集成電路、廣播、電視發(fā)送與接收設備、通用核儀器、光通信設備、數(shù)據(jù)媒體、航天器用能源設備、微電路綜合。

國家質檢總局，關于ecl為何的標準

GB/T 14025-1992半導體集成電路門陣列電路和品種ECL系列的品種

GB/T 3434-1986半導體集成電路ECL電路系列和品種

美國國防后勤局，關于ecl為何的標準

DLA SMD-5962-94592 REV A-2006硅單片,16輸入多路復用器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-94590 REV A-2006硅單片,低功率五重異或門,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-93111 REV B-2005硅單片,雙重總線驅動器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-78009 REV D-2004硅單片三重線接收器ECL線性微型電路

DLA SMD-5962-94591 REV A-2004硅單片,8位移位寄存器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-92306 REV A-2004硅單片,4級計數(shù)器/移位寄存器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-92327 REV A-1994硅單片,九分之一差動時鐘驅動器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-92343 REV B-1994硅單片,四重查動線路驅動器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-90661-1994硅單片,2分3.3吉赫固定調制驅動器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-90567-1994硅單片,4分化3.3吉赫數(shù)字固定調制器分頻器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-90561 REV A-1993硅單片,8輸入優(yōu)先譯碼器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-93104-1993硅單片,6位D型寄存器,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-93100-1993硅單片,五重2輸入與/非與門,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-93101-1993硅單片,五重2輸入同/同或門,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-93099-1993硅單片,四重4輸入或/非與門,ECL數(shù)字微型電路

DLA SMD-5962-93098-1993硅單片,8位同步二進升值計數(shù)器,ECL數(shù)字微型電路

DLA DESC-DWG-88023 REV C-1992ECL的接口表面貼裝24引腳可用第4位編程的積極的延遲線

DLA SMD-5962-90573-1991硅單片,ECL可編程邏輯設置,雙極記憶微型電路

行業(yè)標準-電子，關于ecl為何的標準

SJ 50597/41-1996半導體集成電路.JE10531型ECL雙D主從觸發(fā)器詳細規(guī)范

SJ/T 10847-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10111型ECL雙3輸入或非門（3輸出）（可供認證用）

SJ/T 10840-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10101型ECL四2輸入或/或非門（可供認證用）

SJ/T 10845-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10109型ECL雙4，5輸入或/或非門（可供認證用）

SJ/T 10842-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10104型ECL四2輸入與門（可供認證用）

SJ/T 10737-1996半導體集成電路 ECL電路測試方法的基本原理

SJ/T 10884-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10131型ECL雙主從D觸發(fā)器（可供認證用）

SJ/T 10844-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10106型ECL三4，3，3輸入或非門（可供認證用）

SJ/T 10843-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10105型ECL三2，3，2輸入或/或非門（可供認證用）

SJ/T 10846-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10110型ECL雙3輸入或門（3輸出）（可供認證用）

SJ/T 10848-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10117型ECL雙2路2-3輸入或與/或與非門（可供認證用）

SJ/T 10841-1996電子元器件詳細規(guī)范 半導體集成電路CE10102型ECL四2輸入或非門（可供認證用）

國際電工委員會，關于ecl為何的標準

IEC 60912:1996核儀器 - 計數(shù)器邏輯中的ECL（發(fā)射極耦合邏輯）前面板互連（IEC 912的修訂）

IEC 60912-1996核儀器 計數(shù)器邏輯中的ECL(發(fā)射極耦合邏輯)面板聯(lián)結

IEC 60912-1987計數(shù)器邏輯中的ECL(發(fā)射極耦合邏輯)面板聯(lián)結

，關于ecl為何的標準

SIS SS-IEC 912-1990核檢測儀表．計數(shù)邏輯電路ECL （發(fā)射極耦合邏輯電路）面板互連

(美國)固態(tài)技術協(xié)會,隸屬EIA，關于ecl為何的標準

JEDEC JESD8-2-1993低壓發(fā)射極耦合邏輯(ECL)集成電路的運行電壓和接口水平標準

檢測時間周期

一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據(jù)ecl為何檢測項目而定。

檢測報告有效期

一般ecl為何檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。

檢測流程

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