檢測內(nèi)容

檢測范圍

微電機(jī)器件、半導(dǎo)體器件等。

檢測項(xiàng)目

共振疲勞檢測等。

檢測周期

一般3-15個(gè)工作日出具報(bào)告，可加急。

微電機(jī)器件在生產(chǎn)、使用和研發(fā)等過程中遇到的共振疲勞等問題，中析研究所檢測中心可以幫客戶進(jìn)行基于相關(guān)技術(shù)層面的，有效的分析檢測，提供科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)公正的檢測數(shù)據(jù)。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 38447-2020 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù) MEMS結(jié)構(gòu)共振疲勞試驗(yàn)方法

JIS C5630-12-2014 半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞檢測方法

NF C96-050-12-2012 半導(dǎo)體器件 - 微型機(jī)電裝置 - 第12部分: 使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞檢測方法.

IEC 62047-12-2011 半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞檢測方法

檢測時(shí)間周期

一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)共振疲勞測試項(xiàng)目而定。

檢測報(bào)告有效期

一般共振疲勞測試報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請(qǐng)咨詢客服。