標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓比較器電特性測試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路電壓比較器電特性的測試。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 6798-1996

標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理

英文名稱：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods of voltage comparators

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1986-08-02

實(shí)施日期：1997-01-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：GB 6798-1986(調(diào)整為SJ/T 10805-1996)

起草單位：集成電路標(biāo)委會(huì)接口電路組

歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局

檢測流程

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