標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 6616-1986

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：硅片電阻率的非接觸式測(cè)試方法

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

實(shí)施日期：1987-07-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H22金屬力學(xué)性能試驗(yàn)方法

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 6616-1995代替

檢測(cè)流程

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