標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了運(yùn)用光學(xué)顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度的方法。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 6462-2005

標(biāo)準(zhǔn)名稱：金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法

英文名稱：Metallic and oxide coatings-Measurement of coating inckness-Microscopical method

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2005-06-23

實(shí)施日期：2005-12-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：綜合>>基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)>>A29材料防護(hù)

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：機(jī)械制造>>表面處理和涂覆>>25.220.20表面處理

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6462-1986

起草單位：武漢材料保護(hù)研究所、寧波永新光學(xué)股份有限公司

歸口單位：全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC57）

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢驗(yàn).

檢測(cè)流程

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