標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)波片相位延遲測(cè)量裝置進(jìn)行校準(zhǔn)的術(shù)語(yǔ)和定義、測(cè)量原理、校準(zhǔn)方法和校準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)各種原理的波片相位延遲測(cè)量裝置的精度進(jìn)行校準(zhǔn)。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 26827-2011

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：波片相位延遲測(cè)量裝置的校準(zhǔn)方法

英文名稱(chēng)：Calibration method for measurement equipment of wave plate phase retardation

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-07-29

實(shí)施日期：2011-12-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

起草單位：清華大學(xué)

歸口單位：全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程

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