標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量室溫至800℃各個(gè)階段中電子器件結(jié)構(gòu)陶瓷的平均線膨脹系數(shù)。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 5594.3-1985

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 平均線膨脹系數(shù)測(cè)試方法

英文名稱：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for mean coefficient of linear expansion

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1985-11-27

實(shí)施日期：1986-12-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：>>>>L32

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：31.030

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 5594.3-2015代替

起草單位：電子工業(yè)部12所

歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

發(fā)布單位：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局

檢測(cè)流程

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