標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：GB/T5594的本部分規(guī)定了陶瓷材料平均線膨脹系數(shù)測(cè)試的樣品、測(cè)試設(shè)備、測(cè)試方法及報(bào)告格式。本部分適用于電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料的平均線膨脹系數(shù)的測(cè)試。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5594.3-2015

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第3部分：平均線膨脹系數(shù)測(cè)試方法

英文名稱：Test methods for properties of structure ceramicused in electronic components and device—Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2015-05-15

實(shí)施日期：2016-01-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子設(shè)備專用材料、零件、結(jié)構(gòu)件>>L90電子技術(shù)專用材料

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：31-030

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 5594.3-1985

起草單位：中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十二研究所、河南濟(jì)源兄弟材料有限公司、浙江溫嶺特種陶瓷廠

歸口單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程

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