標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：GB/T5594的本部分規(guī)定了氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷顯微結(jié)構(gòu)的測(cè)定方法。本部分適用于氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷顯微結(jié)構(gòu)的測(cè)定。本部分只涉及光學(xué)顯微鏡的測(cè)定內(nèi)容和測(cè)定方法。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5594.8-2015

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第8部分：顯微結(jié)構(gòu)的測(cè)定方法

英文名稱：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8:Test method for microstructure

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2015-05-15

實(shí)施日期：2016-01-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子設(shè)備專用材料、零件、結(jié)構(gòu)件>>L90電子技術(shù)專用材料

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：31-030

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 5594.8-1985

起草單位：中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十二研究所、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、江蘇常熟銀洋陶瓷器件有限公司

歸口單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測(cè)內(nèi)容請(qǐng)咨詢客服。