標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷在室溫至500°C范圍體積電阻率的測定。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB 5594.5-1985

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 體積電阻率測試方法

英文名稱：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for volume resistivity

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1985-01-01

實(shí)施日期：1986-01-02

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：>>>>L32

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：31.030

起草單位：南京電子管廠

歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

發(fā)布單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

檢測流程

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