標(biāo)準(zhǔn)簡介：本文件界定了在AEM實(shí)踐中所用的術(shù)語。包含一般概念和特定概念的術(shù)語，按照系統(tǒng)順序中各自的層次分類。本文件適用于所有和 AEM 實(shí)踐相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)化文件。此外，本文件的某些部分適用于相關(guān)領(lǐng)域（如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX）通用術(shù)語的定義。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 40300-2021

標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 分析電子顯微學(xué) 術(shù)語

英文名稱：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2021-08-20

實(shí)施日期：2022-03-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.40化學(xué)分析

起草單位：北京科技大學(xué)、南昌大學(xué)、中國科學(xué)院金屬研究所

歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 38)

發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.

檢測流程

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