標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)GB 2423.21-91《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T 2423.25-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM：低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T 2423.26-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM：高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類(lèi)似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5170.10-1996

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

英文名稱(chēng)：Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products -Combined high and low temperature/low air pressure testing??equipments

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1996-06-17

實(shí)施日期：1997-07-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：試驗(yàn)>>19.080電工和電子試驗(yàn)

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB 5170.10-1985;被GB/T 5170.10-2008代替

起草單位：電子工業(yè)部第五研究所

歸口單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所

發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局

檢測(cè)流程

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