標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了帶電粒子半導(dǎo)體探測(cè)器的電特性和核輻射性能的測(cè)量方法以及某些特殊環(huán)境的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶電粒子部分耗盡層的半導(dǎo)體探測(cè)器。全耗盡型半導(dǎo)體探測(cè)器的測(cè)量可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5201-2012

標(biāo)準(zhǔn)名稱：帶電粒子半導(dǎo)體探測(cè)器測(cè)量方法

英文名稱：GB/T 5201-2012

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2012-06-29

實(shí)施日期：2012-11-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：能源、核技術(shù)>>核儀器與核探測(cè)器>>F88核探測(cè)器

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：能源和熱傳導(dǎo)工程>>27.120核能工程

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 5201-1994

起草單位：中核(北京)核儀器廠

歸口單位：全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 30)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測(cè)內(nèi)容請(qǐng)咨詢客服。