標準簡介：本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T 2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T 2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

標準號：GB/T 5170.10-2008

標準名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備

英文名稱：Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products - Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2008-06-16

實施日期：2009-03-01

中國標準分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標準與通用方法

國際標準分類號（ICS）：試驗>>19.040環(huán)境試驗

替代以下標準：替代GB/T 5170.10-1996;被GB/T 5170.10-2017代替

起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所

歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：中國電器工業(yè)協(xié)會

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。