標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法所用術(shù)語、檢定條件、檢定儀器、檢定周期、檢定負(fù)載及檢定結(jié)果處理等基本要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定，其他產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定亦可參照使用。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5170.1-1995

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 總則

英文名稱：Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products－General

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1995-04-06

實施日期：1996-01-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：試驗>>19.040環(huán)境試驗

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB 5170.1-1985;被GB/T 5170.1-2008代替

起草單位：電子工業(yè)部第五研究所、國營西北機器廠、廣州電器科學(xué)研究所、上海工業(yè)自動化研究所

歸口單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所

發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。