標準簡介：本標準以最少量的資料描述了用X射線光電子能譜測量絕緣樣品內能級結合能,及將在報告其分析結果時所采用的荷電控制和荷電校正方法,也給出了在結合能測量過程中對于荷電控制和荷電校正有用的方法資料。

標準號：GB/T 25185-2010

標準名稱：表面化學分析——X射線光電子能譜-荷電控制和荷電校正方法的報告

英文名稱：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2010-09-26

實施日期：2011-08-01

中國標準分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎標準與通用方法

國際標準分類號（ICS）：化工技術>>分析化學>>71.040.40化學分析

起草單位：北京師范大學分析測試中心

歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會

發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

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