GB/T22275.1-2008良好實(shí)驗(yàn)室規(guī)范
2024-11-20
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本部分假定相鄰失效間時(shí)間(對(duì)可修復(fù)設(shè)備)或失效前時(shí)間(對(duì)不可修復(fù)設(shè)備)的統(tǒng)計(jì)分布是服從指數(shù)分布的,即失效率為常數(shù)。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB 5080.7-1986
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案
英文名稱(chēng):Equipment reliability testing Compliance test plans for failure rate and mean time between failures assuming constant failure rate
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):強(qiáng)制性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:1986-01-01
實(shí)施日期:1987-10-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L05可靠性和可維護(hù)性
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(ICS):電氣工程>>29.020電氣工程綜合
替代以下標(biāo)準(zhǔn):無(wú)
起草單位:電子工業(yè)部第五研究所
歸口單位:全國(guó)電工電子可靠性與維修性標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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