標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了交流等郭子體顯示器件（以下簡(jiǎn)稱(chēng)顯示器件）光電參數(shù)的測(cè)試條件及測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)行之有效用于交流等離子體顯示器件光電參數(shù)的測(cè)試。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 11483-1989

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：交流等離子體顯示器件測(cè)試方法

英文名稱(chēng)：Methods of measurement for AC plasma display devices

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1989-03-21

實(shí)施日期：1990-03-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電真空器件>>L39其他電真空器件

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.120電子顯示器件

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 22181.21-2008;GB/T 22181.22-2008;GB/T 22181.24-2016代替部分

起草單位：機(jī)械電子工業(yè)部第五十五研究所

歸口單位：全國(guó)電真空器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：機(jī)械電子工業(yè)部

檢測(cè)流程

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