標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高溫試驗(yàn)箱的使用條件、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 11158-1989

標(biāo)準(zhǔn)名稱：高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

英文名稱：Specification for high temperature test chambers

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1989-03-31

實(shí)施日期：1990-05-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>儀器、儀表綜合>>N04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>熱力學(xué)和溫度測(cè)量>>17.200.20溫度測(cè)量?jī)x器儀表

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 11158-2008代替

起草單位：廣州電器研究所

歸口單位：廣州電器研究所

發(fā)布單位：機(jī)械電子工業(yè)部

檢測(cè)流程

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