標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用透射電子顯微鏡(TEM)對(duì)薄晶體試樣的微米和亞微米尺寸區(qū)域進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析的方法。被測(cè)試樣可以從各種金屬或非金屬材料的薄切片獲得,也可以采用細(xì)微的粉末或萃取復(fù)型試樣。應(yīng)用本方法可分析的最小試樣選區(qū)直徑取決于顯微鏡物鏡的球差系數(shù),對(duì)于現(xiàn)代TEM,試樣的最小選區(qū)直徑一般可達(dá)到0.5μm。當(dāng)被分析試樣區(qū)的直徑小于0.5μm 時(shí)仍然可以參照本標(biāo)準(zhǔn)的分析方法,但是由于球差的影響,衍射譜上的部分信息有可能來源于由選區(qū)光闌限定的區(qū)域之外,在這種情況下,如條件允許,最好采用微(納)衍射或者會(huì)聚束電子衍射方法。選區(qū)電子衍射方法的成功應(yīng)用取決于對(duì)所獲得的衍射譜指數(shù)標(biāo)定正確與否,而不論試樣的哪個(gè)晶帶軸平行于入射電子束,因而,這樣的分析往往需要借助試樣的傾轉(zhuǎn)和旋轉(zhuǎn)裝置。本標(biāo)準(zhǔn)適用于從晶體試樣上獲取SAED 譜、標(biāo)定衍射譜的指數(shù)以及校準(zhǔn)電鏡的衍射常數(shù)。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 18907-2013

標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

英文名稱：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2013-07-19

實(shí)施日期：2014-03-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.50物理化學(xué)分析方

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 18907-2002

起草單位：北京科技大學(xué)、北京航空材料研究院、寶鋼集團(tuán)中央研究院

歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程

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