標準簡介：IEC電子器件質(zhì)量評定體系遵循IEC的章程并在IEC授權(quán)下進行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子器件無需進一步試驗而為其所有參加國同樣接受。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一，并且與下列IEC標準一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范IEC 748-11/QC 790100 半導體器件 集成電路 第11部分：半導體集成電路（不包括混合電路）分規(guī)范

標準號：GB/T 18500.1-2001

標準名稱：半導體器件 集成電路 第4部分：接口集成電路 第一篇：線性數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(DAC)空白詳細規(guī)范

英文名稱：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 1:Bland detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2001-01-01

實施日期：2002-06-01

中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導體集成電路

國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.200集成電路、微電子學

起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所

歸口單位：全國半導體器件標準化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

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