標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 22458-2008 儀器化納米壓入試驗(yàn)方法通則

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對(duì)儀器化納米壓入試驗(yàn)用儀器的能力要求和試驗(yàn)的基本方法，還規(guī)定了對(duì)儀器校準(zhǔn)和檢驗(yàn)、壓頭、標(biāo)準(zhǔn)樣品的要求，以及儀器柔度和壓頭面積函數(shù)的確定方法，并給出了確定硬度和材料參數(shù)所需的數(shù)據(jù)分析方法和壓頭使用的注意事項(xiàng)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測(cè)各種體材料和薄膜的硬度、模量等，其壓入深度范圍通常在納米量級(jí)，也可以擴(kuò)展至幾微米。

英文名稱： General rules of instrumented nanoindentation test

中標(biāo)分類： 綜合>>基礎(chǔ)學(xué)科>>A42物理學(xué)與力學(xué)

ICS分類： 試驗(yàn)>>19.060機(jī)械試驗(yàn)

發(fā)布部門： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

發(fā)布日期： 2008-10-29

實(shí)施日期： 2009-05-01

首發(fā)日期： 2008-10-29

提出單位： 全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 279)

檢測(cè)流程

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