紫外探針檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照紫外探針檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)有473條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，紫外 探針涉及到詞匯、分析化學(xué)、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、長度和角度測(cè)量、金屬材料試驗(yàn)、生物學(xué)、植物學(xué)、動(dòng)物學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、農(nóng)業(yè)和林業(yè)、半導(dǎo)體材料、光學(xué)設(shè)備、電子設(shè)備用機(jī)械構(gòu)件、絕緣流體、紡織產(chǎn)品、熱力學(xué)和溫度測(cè)量、牙科、醫(yī)療設(shè)備、教育、軟件開發(fā)和系統(tǒng)文件、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、土質(zhì)、土壤學(xué)、電工和電子試驗(yàn)、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、農(nóng)業(yè)機(jī)械、工具和設(shè)備、土方工程、挖掘、地基構(gòu)造、地下工程、有色金屬、機(jī)器、裝置、設(shè)備的特性和設(shè)計(jì)、機(jī)床裝置、陶瓷、建筑物結(jié)構(gòu)、太陽能工程、機(jī)床、無損檢測(cè)、電子電信設(shè)備用機(jī)電元件、水質(zhì)、水利建筑、消防、管道部件和管道、有色金屬產(chǎn)品、電工器件、電擊防護(hù)、電氣工程綜合、電信設(shè)備用部件和附件、閥門、無機(jī)化學(xué)、輻射測(cè)量、建筑材料、潤滑劑、工業(yè)油及相關(guān)產(chǎn)品、光纖通信、檢查、維修和試驗(yàn)設(shè)備、電子顯示器件、航空航天用電氣設(shè)備和系統(tǒng)、航空航天用流體系統(tǒng)和零部件、機(jī)上設(shè)備和儀器、微生物學(xué)、電氣設(shè)備元件、燃燒器、鍋爐、半導(dǎo)體分立器件、導(dǎo)體材料、塑料、電子元器件綜合、航空航天制造用材料、水果、蔬菜及其制品、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、體積、質(zhì)量、密度和粘度的測(cè)量、力、重力和壓力的測(cè)量。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，紫外 探針涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、生化試劑、臨床分析試劑、光學(xué)計(jì)量、動(dòng)物檢疫、獸醫(yī)與疫病防治、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、貴金屬及其合金分析方法、工藝美術(shù)品、金屬理化性能試驗(yàn)方法綜合、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、加工專用設(shè)備、綜合技術(shù)、金屬物理性能試驗(yàn)方法、口腔科器械、設(shè)備與材料、醫(yī)療器械綜合、教學(xué)專用儀器、石油地質(zhì)勘探、衛(wèi)生檢疫、化學(xué)、特種陶瓷、電工儀器、儀表綜合、機(jī)床綜合、其他?？破餍?、試驗(yàn)機(jī)與無損探傷儀器綜合、連接器、數(shù)學(xué)、超聲波與聲放射探傷儀器、建筑工程施工機(jī)械、水文地質(zhì)勘察、金屬無損檢驗(yàn)方法、植物檢疫、病蟲害防治、、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、放大鏡與顯微鏡、家用清潔、整容器具、金屬化學(xué)性能試驗(yàn)方法、機(jī)械量儀表、自動(dòng)秤重裝置與其他檢測(cè)儀表、眼科與耳鼻咽喉科手術(shù)器械、一般與顯微外科器械、物理學(xué)與力學(xué)、醫(yī)療設(shè)備通用要求、電纜及其附件、鋼鐵與鐵合金分析方法、混凝土、集料、灰漿、砂漿、交直流電工儀器記錄儀器、醫(yī)用衛(wèi)生用品、稀有金屬及其合金分析方法、加工工藝綜合、敏感元器件及傳感器、醫(yī)用超聲、激光、高頻儀器設(shè)備、建筑構(gòu)造與裝飾工程、電磁計(jì)量、公共醫(yī)療設(shè)備、電子元器件、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、管件、卡箍、密封件、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、顏料、醫(yī)用射線設(shè)備、元素半導(dǎo)體材料、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、防護(hù)設(shè)備的安全要求、程序語言、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、鍋爐及其輔助設(shè)備、通用電子測(cè)量儀器設(shè)備及系統(tǒng)、電氣設(shè)備與器具綜合、化學(xué)計(jì)量、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電子元件綜合、模具、檢驗(yàn)專用設(shè)備、電氣系統(tǒng)與設(shè)備、工程技術(shù)特性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、、包裝材料與容器、計(jì)量綜合、無線電計(jì)量、供氣器材設(shè)備。

國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 21636-2021微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術(shù)語

GB/T 4930-2021微束分析 電子探針顯微分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

GB/T 39518-2020產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS） 使用單探針和多探針接觸式探測(cè)系統(tǒng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的檢測(cè)不確定度評(píng)估指南

GB/T 17360-2020微束分析鋼中低含量硅、錳的電子探針定量分析方法

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36052-2018表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳送格式

GB/T 36052-2018表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳送格式

GB/T 16857.5-2017產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè) 第5部分：使用單探針或多探針接觸式探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

GB/T 34797-2017核酸引物探針質(zhì)量技術(shù)要求

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36052-2018表面化學(xué)分析掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳輸格式

GB/T 32055-2015微束分析電子探針顯微分析波譜法元素面分析

GB/T 20726-2015微束分析電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法

GB/T 30705-2014微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定導(dǎo)則

GB/T 29190-2012掃描探針顯微鏡漂移速率測(cè)量方法

GB/T 28630.1-2012白斑綜合征(WSD)診斷規(guī)程.第1部分：核酸探針斑點(diǎn)雜交檢測(cè)法

GB/T 28634-2012微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析

GB/T 26074-2010鍺單晶電阻率直流四探針測(cè)量方法

GB/T 14146-2009硅外延層載流子濃度測(cè)定.汞探針電容-電壓法

GB/T 17363.1-2009黃金制品金含量無損測(cè)定方法.第1部分:電子探針微分析法

GB/T 15247-2008微束分析.電子探針顯微分析.測(cè)定鋼中碳含量的校正曲線法

GB/T 15616-2008金屬及合金的電子探針定量分析方法

GB/T 17506-2008船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法

GB/T 15074-2008電子探針定量分析方法通則

GB/T 17360-2008鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法

GB/T 21636-2008微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語

GB/T 4930-2008微束分析.電子探針分析.標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

GB/T 20725-2006波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則

GB/T 16857.5-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè) 第5部分;使用多探針探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

GB/T 15244-2002玻璃的電子探針定量分析方法

GB/T 15246-2002硫化物礦物的電子探針定量分析方法

GB/T 15245-2002稀土氧化物的電子探針定量分析方法

GB/T 15617-2002硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法

GB/T 17506-1998船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法

GB/T 17365-1998金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法

GB/T 17360-1998鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法

GB/T 17359-1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則

GB/T 17363-1998黃金制品的電子探針定量測(cè)定方法

GB/T 17366-1998礦物巖石的電子探針分析試樣的制備方法

GB/T 15616-1995金屬及合金的電子探針定量分析方法

GB/T 15394-1994多探針測(cè)試臺(tái)通用技術(shù)條件

GB/T 15247-1994碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法靈敏度曲線法(檢量線法)

GB/T 15075-1994電子探針分析儀的檢測(cè)方法

GB/T 15074-1994電子探針定量分析方法通則

GB/T 4930-1993電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件

GB/T 14146-1993硅外延層載流子濃度測(cè)定和探針電容--電壓法

GB 5666-1985牙探針

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM D6241-22使用50°C的土工織物和土工織物相關(guān)產(chǎn)品靜態(tài)穿刺指數(shù)強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法?毫米探針

ASTM D8153-22用介電常數(shù)探針測(cè)定土壤含水量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2730-22電子參考結(jié)補(bǔ)償電路評(píng)估中熱電偶參考結(jié)探針的校準(zhǔn)和使用的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E2730-21電子參考結(jié)補(bǔ)償電路評(píng)估中熱電偶參考結(jié)探針的校準(zhǔn)和使用的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM B667-97(2019)測(cè)量電接觸電阻用探針的結(jié)構(gòu)和使用的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM D7352-18用直接推壓法在松散地層中使用膜界面探針（MIP）進(jìn)行揮發(fā)性污染物測(cè)井的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E1104-98(2016)臨床溫度計(jì)探針蓋和護(hù)套的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

ASTM F2170-2016測(cè)定原位探針中使用的混凝土樓板中的相對(duì)濕度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2730-10(2015)e1電子參考點(diǎn)補(bǔ)償電路評(píng)估中熱電偶參考點(diǎn)探針的校準(zhǔn)和使用的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E2730-10(2015)e2電子參考點(diǎn)補(bǔ)償電路評(píng)估中熱電偶參考點(diǎn)探針的校準(zhǔn)和使用的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E816-15通過與參考探針計(jì)數(shù)器進(jìn)行比較來校準(zhǔn)測(cè)量儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM B667-97(2014)測(cè)量電接觸電阻用探針的結(jié)構(gòu)和使用的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM D6241-14使用50mm探針的土工織物和土工織物相關(guān)產(chǎn)品的靜態(tài)穿刺強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM D6230-2013使用探針型傾斜儀監(jiān)測(cè)地面運(yùn)動(dòng)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D7352-07(2012)使用膜接口探針（MIP）進(jìn)行揮發(fā)性污染物測(cè)井的直接推壓技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E498/E498M-11在示蹤探針模式下使用質(zhì)譜儀檢漏儀或殘余氣體分析儀檢漏的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E816-05(2010)通過與參考探針計(jì)數(shù)器進(jìn)行比較來校準(zhǔn)測(cè)量儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E2730-10電子參考點(diǎn)補(bǔ)償電路評(píng)估中熱電偶參考點(diǎn)探針的校準(zhǔn)和使用的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM D6241-04(2009)用50毫米探針測(cè)定土工織物和土工織物相關(guān)產(chǎn)品的靜態(tài)穿刺強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D6241-04(2009)e1用50毫米探針測(cè)定土工織物和土工織物相關(guān)產(chǎn)品的靜態(tài)穿刺強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1104-98(2009)臨床溫度計(jì)探針蓋和護(hù)套的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

ASTM B667-97(2009)測(cè)量電接觸電阻用探針的結(jié)構(gòu)和使用的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM D7352-07使用膜接口探針（MIP）進(jìn)行揮發(fā)性污染物測(cè)井的直接推壓技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E1629-2007絕對(duì)渦流探針的阻抗測(cè)定用標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E498-95(2006)在示蹤探針模式下使用質(zhì)譜檢漏儀或殘余氣體分析儀進(jìn)行泄漏的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E499-95(2006)在探測(cè)器-探針模式下使用質(zhì)譜儀檢漏儀進(jìn)行泄漏的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E816-05通過與參考探針計(jì)數(shù)器進(jìn)行比較來校準(zhǔn)測(cè)量儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM F2420-05用相對(duì)濕度探針測(cè)量和絕緣罩測(cè)定混凝土地板表面相對(duì)濕度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F2420-2005用相對(duì)濕度探針測(cè)量法和絕緣蓋測(cè)定混凝土地板表面相對(duì)濕度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F2420-2005(2011)用相對(duì)濕度探針測(cè)量法和絕緣蓋測(cè)定混凝土地板表面相對(duì)濕度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D6241-04用50毫米探針測(cè)定土工織物和土工織物相關(guān)產(chǎn)品的靜態(tài)穿刺強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM B667-97(2003)e1測(cè)量電接觸電阻用探針的結(jié)構(gòu)和使用的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E1104-98(2003)臨床溫度計(jì)探針蓋和護(hù)套的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

ASTM F1711-96(2002)用四點(diǎn)探針測(cè)量平板顯示器制造用薄膜導(dǎo)體片電阻的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM F672-88(1995)e1用擴(kuò)展電阻探針測(cè)量垂直于硅片表面電阻率分布的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E498-95(2000)在示蹤探針模式下使用質(zhì)譜檢漏儀或殘余氣體分析儀進(jìn)行泄漏的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E499-95(2000)在探測(cè)器-探針模式下使用質(zhì)譜儀檢漏儀進(jìn)行泄漏的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F1392-00用水銀探針測(cè)量電容電壓測(cè)定硅片中凈載流子密度分布的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F1392-2000用帶汞探針的容量-電壓測(cè)量法測(cè)定硅晶片中凈載流子密度分布的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D6241-99用50毫米探針測(cè)定土工織物和土工織物相關(guān)產(chǎn)品的靜態(tài)穿刺強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F397-93(1999)用兩點(diǎn)探針測(cè)定硅棒電阻率的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F390-98具有共線四探針陣列的金屬薄膜的片電阻的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F390-98(2003)具有共線四探針陣列的金屬薄膜的片電阻的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1104-98臨床溫度計(jì)探針蓋和護(hù)套的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

ASTM D6230-1998使用探針型傾斜儀檢測(cè)地面運(yùn)動(dòng)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D6230-1998(2005)使用探針型傾斜儀檢測(cè)地面運(yùn)動(dòng)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM B667-97測(cè)量電接觸電阻用探針的結(jié)構(gòu)和使用的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E1813-96(2002)掃描探針顯微鏡學(xué)中探針針尖形狀測(cè)量與報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

ASTM E1813-96e1掃描探針顯微鏡學(xué)中探針針尖形狀測(cè)量與報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

ASTM F1711-96用四點(diǎn)探針測(cè)量平板顯示器制造用薄膜導(dǎo)體片電阻的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E816-95(2002)通過與參考探針計(jì)數(shù)器進(jìn)行比較來校準(zhǔn)測(cè)量儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E816-95通過與參考探針計(jì)數(shù)器進(jìn)行比較來校準(zhǔn)測(cè)量儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E499-1995(2006)探測(cè)器探針方式用質(zhì)譜儀檢漏器檢漏的試驗(yàn)方法

ASTM F1393-92(1997)用水銀探針測(cè)量米勒反饋輪廓儀測(cè)定硅片中凈載流子密度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F1393-1992(1997)用帶汞探針的銑床回授靠模工具機(jī)測(cè)量器測(cè)定硅中凈載流子密度的測(cè)試方法

，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

CSN ON 81 3791-1966電子探針夾

CSN ON 81 3790-1966電子探針

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 18115-2-2021表面化學(xué)分析詞匯第2部分:掃描探針顯微鏡術(shù)語

ISO 23692:2021微束分析-電子探針顯微分析-連鑄鋼產(chǎn)品中錳枝晶偏析的定量分析

ISO 15632:2021微束分析.與掃描電子顯微鏡（SEM）或電子探針顯微分析儀（EPMA）一起使用的能量色散X射線光譜儀（EDS）規(guī)范和檢查用選定儀器性能參數(shù)

ISO 21222-2020表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點(diǎn)JKR法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序

ISO/IEC 26561-2019軟件和系統(tǒng)工程.產(chǎn)品線技術(shù)探針的方法和工具

ISO 11952-2019表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用SPM測(cè)定幾何量:測(cè)量系統(tǒng)的校準(zhǔn)

ISO 11952:2019表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用SPM測(cè)定幾何量:測(cè)量系統(tǒng)的校準(zhǔn)

ISO 19463:2018微束分析 - 電子探針顯微分析儀（EPMA） - 執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南

ISO 19463-2018微光束分析.電子探針顯微分析儀（EPMA）.執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南

ISO 7492-2018牙科學(xué).探針

ISO 5395-3-2013/Amd 1-2017OPC、駐車制動(dòng)器、ROPS、加壓軟管、切割裝置、草地收集器和測(cè)試探針

ISO 22489-2016微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品

ISO 11775:2015表面化學(xué)分析 - 掃描探針顯微鏡 - 懸臂彈簧常數(shù)的測(cè)定

ISO 11775-2015表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 普通懸臂彈簧常數(shù)的測(cè)定

ISO 13083:2015表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用于2D摻雜成像和其他目的的電掃描探針顯微鏡（ESPM）的空間分辨率定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) 如SSRM和SCM

ISO 13083-2015表面化學(xué)分析. 掃描式探針顯微術(shù). 電子掃描式探針顯微術(shù) (ESPM), 例如用于二維摻雜成像等用途的SSRM和SCM, 中空間分辨率的定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

ISO 14594:2014微束分析 - 電子探針微量分析 - 波長色散光譜實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定指南

ISO 14595:2014微束分析.電子探針微量分析.認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRM）規(guī)范指南

ISO 230-10-2011/Amd 1-2014用掃描探針測(cè)量性能

ISO 230-10 AMD 1-2014機(jī)床試驗(yàn)規(guī)程.第10部分:數(shù)控機(jī)床探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量性能的測(cè)定.修改件1:配掃描探針的探測(cè)系統(tǒng)的測(cè)量性能

ISO 13095:2014表面化學(xué)分析 - 原子力顯微鏡 - 用于納米結(jié)構(gòu)測(cè)量的AFM探針柄輪廓的原位表征程序

ISO 13095-2014表面化學(xué)分析. 原子力顯微鏡學(xué). 納米結(jié)構(gòu)測(cè)量用AFM探針柄輪廓的現(xiàn)場(chǎng)鑒定程序

ISO 11952:2014表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用SPM測(cè)定幾何量:測(cè)量系統(tǒng)的校準(zhǔn)

ISO 11952-2014表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 使用SPM測(cè)定幾何量:測(cè)量系統(tǒng)校準(zhǔn)

ISO 25178-605-2014幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS). 表面紋理: 面. 第605部分: 非接觸式(點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探針)儀器的標(biāo)稱特性

ISO 17470:2014微束分析——電子探針微量分析——波長色散X射線光譜法定性點(diǎn)分析指南

ISO 17470-2014微束分析. 電子探針微量分析. 用波長色散X射線光譜測(cè)定法定性點(diǎn)分析指南

ISO 18115-2-2013表面化學(xué)分析.詞匯表.第2部分:掃描-探針顯微鏡檢查中應(yīng)用的術(shù)語

ISO 18115-2:2013表面化學(xué)分析——詞匯第2部分:掃描探針顯微鏡術(shù)語

ISO 23833:2013微束分析——電子探針微量分析（EPMA）——詞匯

ISO 23833-2013微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

ISO 21672-2-2012牙科學(xué).牙周探針.第2部分:名稱

ISO 16592-2012微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼的碳含量的指南

ISO 16592:2012微束分析——電子探針微量分析——用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼中碳含量的指南

ISO 15632:2012微束分析——用于電子探針微分析的能量色散X射線光譜儀規(guī)范和檢查的選定儀器性能參數(shù)

ISO 21672-1-2012牙科學(xué).牙周探針.第1部分:通用要求

ISO 11938:2012微束分析——電子探針微量分析——用波長色散光譜法進(jìn)行元素映射分析的方法

ISO 11938-2012微束分析. 電子探針微量分析. 使用波長色散光譜對(duì)元素映射的分析方法

ISO 11039-2012表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.漂移率的測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)

ISO 11039:2012表面化學(xué)分析——掃描探針顯微鏡——漂移率的測(cè)量

ISO 27911-2011表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義與校準(zhǔn)

ISO 27911:2011表面化學(xué)分析——掃描探針顯微鏡——近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)

ISO 28600-2011表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡檢查用數(shù)據(jù)傳送格式

ISO 28600:2011表面化學(xué)分析——掃描探針顯微鏡的數(shù)據(jù)傳輸格式

ISO 18115-2:2010表面化學(xué)分析詞匯第2部分:掃描探針顯微鏡術(shù)語

ISO 25178-602-2010產(chǎn)品的幾何技術(shù)規(guī)范(GPS).表面紋理:平面.第602部分:非觸點(diǎn)(共焦易染色探針)儀器的標(biāo)稱屬性

ISO 18115-2-2010表面化學(xué)分析.詞匯.第2部分:掃描探針顯微鏡檢查中使用的術(shù)語

ISO 14594 CORR 1-2009微光束分析.電子探針微分析.波長色散光譜法測(cè)定實(shí)驗(yàn)參數(shù)用指南.技術(shù)勘誤1

ISO 15548-2-2008無損檢測(cè).渦流檢驗(yàn)設(shè)備.第2部分:探針特性和驗(yàn)證

ISO 23833:2006微束分析.電子探針微量分析（EPMA）.詞匯

ISO 23833-2006微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

ISO 22489-2006微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品

ISO 16592:2006微束分析.電子探針微量分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼中碳含量的指南

ISO 16592-2006微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼的碳含量的指南

ISO 18452:2005精細(xì)陶瓷（高級(jí)陶瓷、高級(jí)工業(yè)陶瓷）——用接觸探針輪廓儀測(cè)定陶瓷膜厚度

ISO 18452-2005精密陶瓷(高級(jí)陶瓷、高級(jí)工業(yè)陶瓷).用接觸式探針輪廓測(cè)定儀測(cè)定陶瓷覆層厚度

ISO 17470:2004微束分析.電子探針微量分析.波長色散X射線光譜法定性點(diǎn)分析指南

ISO 17470-2004微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南

ISO 14595:2003微束分析——電子探針微量分析——認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRM）規(guī)范指南

ISO/TR 10305-2-2003道路車輛.電磁場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)量設(shè)備的校正.第2部分:9kHz-40GHz的電磁場(chǎng)傳感器和探針(不包括天線)的校正用IEEE標(biāo)準(zhǔn)

ISO 7492-1997牙科探針

ISO 7551-1996牙科用吸髓探針

ISO 9950:1995工業(yè)淬火油——冷卻特性的測(cè)定——鎳合金探針試驗(yàn)方法

ISO 3630-1-1992牙根管器械 第1部分:推管銼、擴(kuò)大器、倒刺拔髓針、粗銼、糊劑輸送器、探針及棉捻

ISO 7492-1983牙科用探針

ISO 18563-2-2017無損檢驗(yàn). 超聲相控陣設(shè)備的表征和驗(yàn)證. 第2部分：探針

國家藥監(jiān)局，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

YY/T 1014-2021牙科學(xué) 牙探針

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

DIN 58853-2021醫(yī)療器械. 有孔探針

DIN 58852-2021醫(yī)療器械. 探針

DIN 58858-2021醫(yī)療器械. K?nig型有溝探針

DIN EN ISO 10360-5-2020產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS). 坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)(CMS)的驗(yàn)收和驗(yàn)證試驗(yàn). 第5部分: 使用離散點(diǎn)和/或掃描測(cè)量模式的單探針和多探針接觸探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)(ISO 10360-5-2020); 德文版 EN ISO 10360-5-2020

DIN EN ISO 7492-2018牙科學(xué).牙科探針(ISO 7492-2018); 德文版本EN ISO 7492-2018

DIN 4000-178-2016事物特性表. 第178部分: 探測(cè)系統(tǒng), 觸控系統(tǒng)和探針

DIN EN ISO 18452-2016精密陶瓷(高級(jí)陶瓷、高級(jí)工業(yè)陶瓷).用接觸式探針輪廓測(cè)定儀測(cè)定陶瓷覆層厚度(ISO 18452-2005).德文版本EN ISO 18452-2016

DIN ISO 16592-2015微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼的碳含量的指南(ISO 16592-2012)

DIN 58855-2014醫(yī)療器械.Kirschner式有溝探針

DIN 58852-2014醫(yī)療器械.探針

DIN 58858-2014醫(yī)療器械.K?nig型有溝探針

DIN 58853-2014醫(yī)療器械.有孔探針

DIN EN ISO 21672-2-2013牙科學(xué).牙周探針.第2部分:名稱(ISO 21672-2-2012).德文版本EN ISO 21672-2-2012

DIN EN 1971-2-2012銅和銅合金.在無縫圓銅和銅合金管上的測(cè)量缺陷的渦流試驗(yàn).第2部分:在內(nèi)表面使用內(nèi)部探針的試驗(yàn).德文版本EN 1971-2-2011

DIN EN ISO 25178-602-2011產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)-表面紋理:平面.第602部分:非接觸式(共焦彩色探針)儀器的標(biāo)稱特征(ISO 25178-602-2010);德文版本EN ISO 25178-602-2010

DIN 96094-2010醫(yī)療器械 -Bowman式淚囊探針

DIN 96091-2010醫(yī)療器械.導(dǎo)向探針型布倫納

DIN 58856-2010醫(yī)療器械.代雅丹式膽結(jié)石探針

DIN EN 60512-16-1-2009電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測(cè)量第16-1部分:觸點(diǎn)和終端的機(jī)械試驗(yàn)試驗(yàn)16a:探針故障

DIN EN ISO 15548-2-2009無損檢驗(yàn).渦流檢驗(yàn)設(shè)備.第2部分:探針特性和鑒定

DIN 58853-2008醫(yī)療器械.有孔探針

DIN 58858-2008醫(yī)療器械.K?nig型有溝探針

DIN 58852-2008醫(yī)療器械.探針

DIN 58857-2008醫(yī)療器械.有溝探針

DIN 58855-2008醫(yī)療器械.Kirschner式有溝探針

DIN EN 1071-4-2006高級(jí)工業(yè)陶瓷.陶瓷涂層的試驗(yàn)方法.第4部分:使用電探針微量分析(EPMA)測(cè)量化學(xué)成分

DIN 6800-5-2005光子輻射和電子輻射用帶探針型探測(cè)器的劑量測(cè)定程序.第5部分:熱致發(fā)光劑量測(cè)定

DIN V ENV 737-6-2003醫(yī)用氣體管道系統(tǒng).第6部分:醫(yī)用壓縮氣體和真空終端裝置用探針的尺寸和定位

DIN EN 1071-1-2003高級(jí)工業(yè)陶瓷.陶瓷覆層的試驗(yàn)方法.第1部分:用接觸式探針輪廓測(cè)定儀測(cè)定覆層厚度

DIN EN 2591-6415-2003航空航天系列.光電連接件.試驗(yàn)方法.第6415部分:光學(xué)元件.探針探傷

DIN EN 13312-6-2001生物技術(shù).管路鋪設(shè)和儀器使用的性能標(biāo)準(zhǔn).第6部分:設(shè)備探針; 德文版本 EN 13312-6:2001

DIN 6800-4-2000光子輻射和電子輻射用探針型探測(cè)器的劑量測(cè)定程序.第4部分:膠片劑量測(cè)定法

DIN EN 61032-1998用外殼對(duì)人體和設(shè)備進(jìn)行的保護(hù).驗(yàn)證用探針

DIN EN ISO 7492-1998牙科探針

DIN 50435-1988半導(dǎo)體材料試驗(yàn):采用四探針/直流法測(cè)量硅片和鍺片電阻率的徑向變化

DIN 50431-1988半導(dǎo)體材料的試驗(yàn).用探針直線排列的四探針/直流法測(cè)量單晶硅或鍺單晶體的電阻率

DIN 58858-1979醫(yī)療器械.Koenig式帶溝探針

DIN 58856-1976醫(yī)療器械.Desjardins式膽結(jié)石探針

DIN 58853-1976醫(yī)療器械.有孔探針

DIN 58852-1976醫(yī)療器械.探針

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

NF S90-116-2020醫(yī)用氣體管道分配系統(tǒng). 醫(yī)用液體的插座和相關(guān)探針. 設(shè)計(jì)和安裝

NF C42-020-031-2015測(cè)量、控制和試驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求.第031部分:電氣測(cè)量和試驗(yàn)用手持式探針組件的安全要求

NF E60-100-10/A1-2014機(jī)床試驗(yàn)規(guī)程. 第10部分: 數(shù)控機(jī)床探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量性能的測(cè)定. 修改件1: 掃描探針的測(cè)量性能

NF E05-031-605-2014幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS). 表面紋理: 面. 第605部分: 非接觸式(點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探針)儀器的標(biāo)稱特性

NF X10-960-1-2013水和地?zé)徙@井.垂直地?zé)崽结?第1部分:總論

NF X10-960-4-2013水和地?zé)徙@井.垂直地?zé)崽结?第4部分:耐升溫的聚乙烯(PE-RT)探針環(huán)

NF X10-960-3-2013水和地?zé)徙@井 - 垂直地?zé)崽结?- 第3部分: 交聯(lián)聚乙烯 (PE-X) 探針回路

NF X10-960-2-2013水和地?zé)徙@井 - 垂直地?zé)崽结?- 第2部分: 聚乙烯100 (PE 100) 探針回路

NF S91-190-2-2012牙科 - 牙周探針 - 第2部分: 命名

NF X21-013-2012微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).應(yīng)用波長色散光譜學(xué)進(jìn)行元素映射分析方法

NF S91-190-1-2012牙科 - 牙周探針 - 第1部分: 通用要求

NF A05-115-2-2012銅和銅合金.測(cè)量圓形銅或銅合金管無縫缺陷的渦流試驗(yàn).第2部分:使用內(nèi)表面上內(nèi)部測(cè)試探針的試驗(yàn)

NF A05-115-1-2012銅和銅合金.測(cè)量圓形銅或銅合金管無縫缺陷的渦流試驗(yàn).第2部分:使用內(nèi)表面上內(nèi)部測(cè)試探針的試驗(yàn)

NF X21-069-2-2010表面化學(xué)分析.詞匯.第2部分:掃描探針顯微鏡用術(shù)語.

NF E05-031-701-2010產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS).表面紋理:平面.第701部分:觸點(diǎn)(探針)儀器用測(cè)量和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

NF E05-031-601-2010產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS).表面紋理:平面.第601部分:觸點(diǎn)(探針)儀器的標(biāo)稱特性

NF E05-031-602-2010產(chǎn)品的幾何技術(shù)規(guī)范(GPS).表面紋理:平面.第602部分:非觸點(diǎn)(共焦易染色探針)儀器的標(biāo)稱特性

NF C93-400-16-1-2008電子設(shè)備用連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第16-1:觸點(diǎn)和終端的機(jī)械試驗(yàn).試驗(yàn)16a:探針損傷

NF X21-009-2008微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

NF X21-007-2008微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼中碳含量的指南

NF X21-002-2007微光束分析.電子探針微量分析.波長色散光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定指南

NF X21-006-2007微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測(cè)量法進(jìn)行塊狀樣品的定量點(diǎn)分析

NF X21-003-2006微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測(cè)量法定量分析指南

NF A92-801-4-2006高級(jí)工業(yè)陶瓷.陶瓷涂層的試驗(yàn)方法.第4部分:使用電探針微量分析法(EPMA)測(cè)量化學(xué)成分

NF A92-801-1-2003先進(jìn)工藝陶瓷.陶瓷涂層的試驗(yàn)方法.第1部分:用接觸式探針輪廓測(cè)定儀測(cè)定涂層厚度

NF L54-002-132-2002航空航天系列.電氣及光學(xué)連接元件.試驗(yàn)方法.第6415部分:光學(xué)元件.檢測(cè)探針損傷

NF L54-002-058-2002航空航天系列.電氣及光學(xué)連接元件.試驗(yàn)方法.第415部分:檢測(cè)探針損傷(插孔接觸點(diǎn))

NF C42-725-2002測(cè)量、控制和試驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求.第031部分:電氣測(cè)量和試驗(yàn)用手持式探針組件的安全要求

NF S91-111-1998牙科用探針

NF C20-013-1998防護(hù)罩對(duì)人員和設(shè)備的保護(hù).驗(yàn)證用探針

NF C42-725-1994測(cè)量、控制和試驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求.第2-031部分:電氣測(cè)量和試驗(yàn)用手持探針的特殊要求

NF A09-326-1987無損試驗(yàn).超聲波試驗(yàn).接觸式探針超聲波束特性工作條件下的評(píng)估方法

教育部，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

JY/T 0582-2020掃描探針顯微鏡分析方法通則

國家能源局，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

SY/T 6027-2019巖石礦物電子探針定量分析方法

國家食品藥品監(jiān)督管理局，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

YY/T 1622.1-2018牙科學(xué) 牙周探針 第1部分：通用要求

國際電工委員會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61010-031-2015/AMD1-2018修改件1.測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求.第031部分:電氣試驗(yàn)和測(cè)量用手持式和手動(dòng)探針組件的安全要求

IEC 61010-031:2015/AMD1:2018修改件1.測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求.第031部分:電氣試驗(yàn)和測(cè)量用手持式和手動(dòng)探針組件的安全要求

IEC 61010-031:2015+AMD1:2018 CSV測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求.第031部分:電氣試驗(yàn)和測(cè)量用手持式和手動(dòng)探針組件的安全要求

IEC 61010-031-2015+AMD1-2018 CSV測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求.第031部分:電氣試驗(yàn)和測(cè)量用手持式和手動(dòng)探針組件的安全要求

IEC 60512-16-1-2008電子設(shè)備用連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第16-1部分:觸點(diǎn)和終端的機(jī)械試驗(yàn).試驗(yàn)16a:探針故障

IEC 61010-2-031-1993測(cè)量、控制和試驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求.第2-031部分:電氣測(cè)量和試驗(yàn)用手持探針的特殊要求

IEC/TR 61032-1990靠近防護(hù)外罩的測(cè)試探針檢驗(yàn)

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

SN/T 4971-2017國境口岸耐多藥結(jié)核分枝桿菌線性探針雜交檢測(cè)方法

SN/T 4821-2017牛脊椎畸形綜合征TaqMan探針PCR檢測(cè)方法

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

JIS K0147-2-2017表面化學(xué)分析. 詞匯. 第2部分: 掃描探針顯微鏡用術(shù)語

JIS T5418-2-2015牙科. 牙周探針. 第2部分: 命名

JIS T5418-1-2015牙科. 牙周探針. 第1部分: 通用要求

JIS T5418-2-2015牙科. 牙周探針. 第2部分: 命名

JIS T5418-1-2015牙科. 牙周探針. 第1部分: 通用要求

JIS Z2316-3-2014無損檢測(cè).渦流檢測(cè).第3部分:探針特征和驗(yàn)證

JIS C5402-16-1-2014電子設(shè)備連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第16-1部分:觸點(diǎn)和終端的機(jī)械試驗(yàn).試驗(yàn)16a:探針故障

JIS C5402-16-1-2014電子設(shè)備連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第16-1部分:觸點(diǎn)和終端的機(jī)械試驗(yàn).試驗(yàn)16a:探針故障

JIS Z2316-3-2014無損檢測(cè).渦流檢測(cè).第3部分:探針特征和驗(yàn)證

JIS K0189-2013微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定

JIS K0189-2013微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定

JIS K0190-2010微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南

JIS T5402-2000牙科探針

JIS C1010-2-31-1998測(cè)量、控制和試驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求.第2-31部分:電氣測(cè)量和試驗(yàn)用手持探針組件的特殊要求

JIS R1637-1998用四點(diǎn)探針排列法測(cè)定傳導(dǎo)精細(xì)陶瓷薄膜電阻率的試驗(yàn)方法

JIS K7194-1994用四點(diǎn)探針排列法測(cè)定傳導(dǎo)塑料電阻率的測(cè)試方法

JIS T2619-1983淚管探針

JIS T5402-1979牙科探針

JIS T3202-1953尿道探針

JIS T2605-1953探針

JIS T5402 ERRATUM 1-2000牙科用探針(勘誤 1)

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 22489-2016微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析

BS PD ISO/TS 17865-2016產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS). 采用單探針和多探針接觸探測(cè)系統(tǒng)評(píng)估坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)試驗(yàn)不確定度的指引

BS EN ISO 18452-2016精密陶瓷(高級(jí)陶瓷、高級(jí)工業(yè)陶瓷).用接觸式探針輪廓測(cè)定儀測(cè)定陶瓷覆層厚度

BS ISO 11775-2015表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 普通懸臂彈簧常數(shù)的測(cè)定

BS ISO 11775-2015表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 普通懸臂彈簧常數(shù)的測(cè)定

BS ISO 13083-2015表面化學(xué)分析. 掃描式探針顯微術(shù). 電子掃描式探針顯微術(shù) (ESPM), 例如用于二維摻雜成像等用途的SSRM和SCM, 中空間分辨率的定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 13083-2015表面化學(xué)分析. 掃描式探針顯微術(shù). 電子掃描式探針顯微術(shù) (ESPM), 例如用于二維摻雜成像等用途的SSRM和SCM, 中空間分辨率的定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 13095-2014表面化學(xué)分析. 原子力顯微鏡學(xué). 納米結(jié)構(gòu)測(cè)量用AFM探針柄輪廓的現(xiàn)場(chǎng)鑒定程序

BS EN ISO 25178-605-2014幾何產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范 (GPS). 表面結(jié)構(gòu): 平面式. 非接觸 (點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探針) 儀器的標(biāo)稱特征

BS ISO 17470-2014微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長分散X射線光譜測(cè)定法的定性點(diǎn)分析指南

BS EN ISO 15548-2-2013無損檢測(cè).渦流檢驗(yàn)設(shè)備.探針特性和驗(yàn)證

BS ISO 18115-2-2013表面化學(xué)分析. 詞匯. 掃描探針顯微鏡用術(shù)語

BS ISO 23833-2013微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

BS ISO 23833-2013微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

BS ISO 11938-2013微束分析.電子探針顯微分析.使用波長色散光譜對(duì)元素映射的分析方法

BS ISO 11938-2013微束分析.電子探針顯微分析.使用波長色散光譜對(duì)元素映射的分析方法

BS EN ISO 21672-2-2012牙科. 牙周探針. 命名

BS ISO 15632-2012微束分析. 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)

BS ISO 16592-2012微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼碳含量的指南

BS EN ISO 21672-1-2012牙科學(xué).牙周探針.通用要求

BS ISO 11039-2012表面化學(xué)分析.掃面探針顯微鏡.漂移率的測(cè)定

BS ISO 11039-2012表面化學(xué)分析.掃面探針顯微鏡.漂移率的測(cè)定

BS EN 1971-2-2011銅和銅合金.銅及銅合金無縫圓管渦流探傷方法.用內(nèi)部探針在內(nèi)表面上試驗(yàn)

BS ISO 27911-2011表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)

BS ISO 28600-2011表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡的數(shù)據(jù)傳送格式

BS ISO 28600-2011表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡的數(shù)據(jù)傳送格式

BS ISO 18115-2-2010表面化學(xué)分析.詞匯表.掃描-探針顯微鏡檢查中應(yīng)用的術(shù)語

BS EN ISO 25178-602-2010產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS).表面紋理.平面.非接觸式(共焦彩色探針)儀器的標(biāo)稱特征

BS EN ISO 15548-2-2008無損檢測(cè).渦流檢驗(yàn)設(shè)備.探針特性和驗(yàn)證

BS EN 60512-16-1-2008電子設(shè)備用連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.觸點(diǎn)和終端的機(jī)械試驗(yàn).試驗(yàn)16a:探針故障

BS ISO 22489-2007微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析

BS EN 1071-4-2006高級(jí)工業(yè)陶瓷.陶瓷涂層的試驗(yàn)方法.用電子探針微量分析(EPMA)測(cè)定化學(xué)成分

BS DD ENV 737-6-2003醫(yī)用氣體管道系統(tǒng).壓縮醫(yī)用氣體終端設(shè)備和真空終端設(shè)備用探針的尺寸和定位

BS EN 13860-2-2003無損檢驗(yàn).渦流檢驗(yàn).設(shè)備特性和檢定.探針特性和檢定

BS EN 2591-6415-2002電氣和光學(xué)連接元件.試驗(yàn)方法.光學(xué)元件.檢測(cè)探針的損傷

BS EN 2591-415-2001電氣和光學(xué)連接元件.試驗(yàn)方法.測(cè)試探針損傷(塞孔接點(diǎn))

BS EN 61032-1998用外殼對(duì)人體和設(shè)備保護(hù)圍欄.驗(yàn)證探針

BS EN ISO 7492-1997牙科探針

BS EN ISO 7492-1998牙科探針

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-醫(yī)藥，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

YY/T 0172-2014子宮探針

YY/T 1014-2013牙探針

YY 0075-2005淚道探針

YY/T 0172-1994子宮探針

YY 91014-1999牙探針

YY 91914-1999牙探針

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-航空，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

HB 8422-2014合金中微量元素電子探針定量分析方法

HB 4574.4-1992沖模安全控制裝置.探針控制裝置

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

EN ISO 25178-605-2014產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS).表面結(jié)構(gòu):區(qū)域.第605部分:非接觸式(點(diǎn)自動(dòng)聚焦探針)儀器的標(biāo)稱特性(ISO 25178-605:2014)

EN ISO 15548-2-2013無損檢測(cè).渦流檢驗(yàn)設(shè)備.第2部分:探針特性和驗(yàn)證

EN ISO 21672-2-2012牙科學(xué).牙周探針.第2部分:名稱

EN ISO 5814-2012水質(zhì)-溶解氧測(cè)定電化學(xué)探針方法(取代:岑EN 25814)

EN ISO 15548-2-2008無損檢測(cè).渦流檢驗(yàn)設(shè)備.第2部分:探針特性和驗(yàn)證［代替:CEN EN 13860-2］

EN 1071-4-2006先進(jìn)技術(shù)陶瓷.陶瓷涂層用試驗(yàn)方法.第4部分:使用電探針微量分析(EPMA)測(cè)量化學(xué)成分;代替ENV 1071-4-1995

EN 1071-1-2003先進(jìn)技術(shù)陶瓷.陶瓷覆層的試驗(yàn)方法.第1部分:用接觸式探針輪廓測(cè)定儀測(cè)定覆層厚度;代替ENV 1071-1-1993

ENV 737-6-2003醫(yī)用氣體管道系統(tǒng).第6部分:壓縮醫(yī)用氣體終端設(shè)備和真空終端設(shè)備用探針的尺寸和定位

EN 12668-2-2001無損檢測(cè)超聲波檢查設(shè)備的特性表征和檢驗(yàn).第2部分:探針;包含修改件A1-2004

EN 13312-6-2001生物技術(shù).管道和儀表用性能標(biāo)準(zhǔn).第6部分:設(shè)備探針

EN 2591-415-2001航空航天系列.光電連接元件的試驗(yàn)方法.第415部分:測(cè)試探針損傷(塞孔接點(diǎn))

EN 2591-6415-2001航空航天系列.光電連接元件的試驗(yàn)方法.第6415部分:光學(xué)元件.探針損傷測(cè)試

EN ISO 7492-1998牙科用探針

韓國標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

KS P ISO 7492-2013牙科探針

KS P ISO 7551-2013牙科用吸髓探針

KS P ISO 7492-2013牙科探針

KS P ISO 7551-2013牙科用吸髓探針

KS D ISO 23833-2012微束分析.電子探針微小分析.詞匯

KS D ISO 22489-2012微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品

KS D ISO 22489-2012微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品

KS D ISO 16592-2011微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼碳含量的指南

KS P 2014-2006探針

KS P 2014-2006探針

KS D 2714-2006掃描探針顯微鏡.橫向剪切力的測(cè)量方法

KS D 2714-2006掃描探針顯微鏡.橫向剪切力的測(cè)量方法

KS P 7112-2006牙科用牙探針

KS P 7112-2006牙科用牙探針

KS B 0535-2005超聲波探針性能測(cè)試方法

KS B 0535-2005超聲波探針性能測(cè)試方法

KS P 7429-1995牙周袖珍探針

KS P 7429-1995牙周袖珍探針

KS C 1802-1986腦電圖儀光探針

KS C 1802-1986腦電圖儀光探針

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

SN/T 3399-2012大豆莖潰瘍病菌檢疫鑒定方法--TaqMan MGB探針實(shí)時(shí)熒光PCR檢測(cè)方法

云南省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

DB53/T 443-2012火災(zāi)技術(shù)鑒定方法 電子探針分析法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

SY/T 6027-2012巖石礦物電子探針定量分析方法

SY/T 6027-1994含氧礦物電子探針定量分析方法

國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

JJF 1351-2012掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范

JJF 1029-1991電子探針定量分析用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制規(guī)范

美國保險(xiǎn)商實(shí)驗(yàn)所，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

UL 1017 CRD-2012真空吸塵器, 吹風(fēng)機(jī)和家用地板整理機(jī)的UL安全標(biāo)準(zhǔn). 節(jié)/段落參考: 圖25主題: 修正圖25探針測(cè)量"D" (第八版: 2010年9月10日)

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

ANSI/EIA-364-25D-2010電連接器的探針損傷試驗(yàn)程序

ANSI/SCTE 48-2-2008使用閉合靈敏磁場(chǎng)探針測(cè)量有源和無源同軸電纜裝置的相關(guān)屏蔽作用的試驗(yàn)程序

ANSI/IEEE 1309-20059KHz-40GHz電磁場(chǎng)傳感器和探針的校正標(biāo)準(zhǔn)(天線除外)

ANSI/EIA 364-25C-1998電連接器.探針損傷試驗(yàn)程序

印度尼西亞標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

SNI IEC 61032-2009外殼對(duì)人體和設(shè)備的保護(hù). 檢驗(yàn)用探針

歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

EN 60512-16-1-2008電子設(shè)備用連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第16-1部分:觸點(diǎn)和終端的機(jī)械試驗(yàn).試驗(yàn)16a:探針故障

EN 61032-1998用外殼對(duì)人體和設(shè)備進(jìn)行保護(hù).檢驗(yàn)用探針［替代:CENELEC HD 601 S1］

(美國)空*，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

AIR FORCE MIL-P-25726 B VALID NOTICE 2-2008MA-1型總溫探針

AIR FORCE MIL-P-83375-1972防凍總溫單元件探針

美國防腐工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

NACE 05107-2007土壤或混凝土中的腐蝕探針報(bào)告.項(xiàng)目編號(hào)24234

NACE 1C187-2005電流探針腐蝕監(jiān)視器在油和天然氣鉆采作業(yè)中的使用.項(xiàng)目編號(hào)24003

臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

CNS 15044-2007體溫計(jì)探針護(hù)套

CNS 7452-1998牙科用探針

CNS 12846-1991氦質(zhì)譜儀示蹤氣探針探漏法

CNS 6288-1989探針

CNS 7664-1987頻率３ＭＨｚ以下電連接器檢驗(yàn)法（探針損壞試驗(yàn)ＴＰ–２５）

CNS 8166-1981淚管探針

CNS 5931-1981尿道探針

CNS 5939-1980醫(yī)療用探針及導(dǎo)管用標(biāo)準(zhǔn)計(jì)測(cè)板

美國公路與運(yùn)輸員工協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

AASHTO T 332-2007利用特定離子探針測(cè)定混凝土和混凝土材料中氯離子的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

AASHTO TP55-1998用特定離子探針測(cè)定混凝土和混凝土材料中氯離子的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.2000年版

國家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

JJG 508-2004四探針電阻率測(cè)試儀

JJG 901-1995電子探針分析儀檢定規(guī)程

JJG(地質(zhì)) 1017-1990電子探針儀檢定規(guī)程

JJG 508-1987四探針電阻率測(cè)試儀檢定規(guī)程

美國國防后勤局，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

DLA A-A-59206 VALID NOTICE 1-2003檢驗(yàn)用光探針(被替代:DLA MIL-P-12001D 撤消公告 1,DLA MIL-P-12001D,DLA MIL-P-12001C,DLA MIL-P-12001B)

DLA A-A-59206-1998檢驗(yàn)用光探針(被替代:DLA MIL-P-12001D 撤消公告 1,DLA MIL-P-12001D,DLA MIL-P-12001C,DLA MIL-P-12001B)

美國機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

SAE AS 5072/3A-2002乙烯/乙二醇/水自封接頭微型自動(dòng)封閉校準(zhǔn)無鎖探針型420直徑耦合裝配

SAE AS 5072/1A-2002乙烯/乙二醇/水自封接頭微型自動(dòng)封閉校準(zhǔn)無鎖探針型375直徑耦合裝配

福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

DB35/T 110-2000油漆物證檢測(cè)電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法

(美國)*事條例和規(guī)范，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

ARMY MIL-P-48698 (6)-1998探針和S&A組件:TOW-2/E6

ARMY MIL-P-70661 (3)-1992TOW-2/E6探針和S&A組件用密封電路卡組件

ARMY MIL-F-63434 A (3)-1990引信探針組裝.彈簧組裝和包裝(陶式武器)

ARMY MIL-F-63434 A VALID NOTICE 1-1989引信探針組裝.彈簧組裝和包裝(陶式武器)

ARMY MIL-P-48698-1987探針和S&A組件:TOW-2/E6

ARMY MIL-P-70661-1987TOW-2/E6探針和S&A組件用密封電路卡組件

ARMY MIL-F-63412 VALID NOTICE 1-1987引信探針的裝配.氣動(dòng)組裝及包裝(陶式武器)

ARMY MIL-F-63434 A-1982引信探針組裝.彈簧組裝和包裝(陶式武器)

ARMY MIL-F-63412-1981引信探針的裝配.氣動(dòng)組裝及包裝(陶式武器)

美國電子元器件、組件及材料協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

ECA EIA-364-25C-1998TP-25C 電連接器的探針損傷試驗(yàn)程序 取代MIL-STD-1344,方法2006.1

美國電氣電子工程師學(xué)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

IEEE 1309 ERTA-1998頻率為9KHz～40GHz的不包括天線的電磁場(chǎng)傳感器和探針的校正.勘誤

IEEE 1309-1996頻率為9KHz～40GHz的電磁傳感器和探針,不包括天線

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

JB/T 8501-1996鍋爐吹灰器和測(cè)溫探針

(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì),隸屬EIA，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

JEDEC JEP128-1996Wafer-Level電測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)探針墊大小和布置指南

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

DS/EN ISO 3630-1-1995齒根管器械．第1部分：推管銼，擴(kuò)大器，倒刺拔髓針，粗銼，糊劑輸送器，探針及棉捻

DS/ENV 1071-1-1993高級(jí)工業(yè)陶瓷．陶瓷涂層試驗(yàn)方法．第1部分：利用探針表面光度儀測(cè)定涂層厚度

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-兵工民品，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

WJ 2297-1995電子探針檢定規(guī)程

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

SJ/T 10481-1994硅外延層電阻率的面接觸三探針.測(cè)試方法

SJ/T 10315-1992四探針探頭通用技術(shù)條件

SJ/T 10314-1992直流四探針電阻率測(cè)試儀通用技術(shù)條件

SJ/T 31122-1994四探針測(cè)試儀完好要求和檢查評(píng)定方法

SJ/T 31123-1994自動(dòng)多探針測(cè)試臺(tái)完好要求和檢查評(píng)定方法

美國國防部標(biāo)準(zhǔn)化文件（含MIL標(biāo)準(zhǔn)），關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

DOD A-A-54900-1993柔軟性銅導(dǎo)尿管探針

DOD A-A-53933-1989齒根膜探針

DOD A-A-53759-1989神經(jīng)刺激探針

DOD A-A-51490-1987普通運(yùn)行探針

DOD A-A-51604 A-1987尿液管道探針(用以代替:DOD A-A-0051604)

DOD A-A-51398-1986尿道探針

歐洲航空航天和國防工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

ASD-STAN PREN 2591-FD15-1993航空航天系列．電氣和光學(xué)連接部件．試驗(yàn)方法．第FD15部分:光學(xué)元件．測(cè)試探針損壞;第P1版

ASD-STAN PREN 2591-D15-1992航空航天系列．電氣和光學(xué)連接部件．試驗(yàn)方法．第D15部分:測(cè)試探針損壞（插孔式觸點(diǎn)）;第P1版

歐洲航空工業(yè)協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

AECMA PREN 2591-D15-1992航空航天系列.光電連接元件　試驗(yàn)方法　D15部分:測(cè)試探針損傷(塞孔接點(diǎn))

美國宇航局，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

NASA-TN-D-6827-1972補(bǔ)償和非補(bǔ)償空速管靜態(tài)空速探針的飛行校準(zhǔn)和探針對(duì)超音速巡航工具的使用

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 探針的標(biāo)準(zhǔn)

AS 61010.031-2004測(cè)量，控制以及實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求．電氣測(cè)量和試驗(yàn)用手持式探針組件的安全要求

AS 61010.031-2004測(cè)量，控制以及實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求．電氣測(cè)量和試驗(yàn)用手持式探針組件的安全要求

檢測(cè)流程

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