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非磁性基體金屬上非導電覆蓋層

覆蓋層厚度測量渦流法

1范圍

本標準規(guī)定了使用渦流測厚儀無損測量非磁性基體金屬上非導電覆蓋層厚度的方法。

本方法適用于測量大多數(shù)陽*氧化膜的厚度;但它不適用于一切的轉(zhuǎn)化膜,有些轉(zhuǎn)化膜因為太薄而不能用這種方法測量(見第7章)。

本方法理論上能測量磁性基體金屬上覆蓋層的厚度﹐但不予推薦。在這種情況下﹐應采用GB/T 4956中所規(guī)定的磁性方法進行測量。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本適用于本標準。

GB/T 4956﹑磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法(ISO 2178,1982,IDT)

3原理

渦流測厚儀器測頭裝置中產(chǎn)生的高頻電磁場,將在置于測頭下面的導體中產(chǎn)生渦流,渦流的振幅和相位是存在于導體和測頭之間的非導電覆蓋層厚度的函數(shù)。

檢測項目及標準

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。