電子元器件及設(shè)備（物理性能）檢測(cè)哪些項(xiàng)目？檢測(cè)周期多久？報(bào)告有效期多久呢？我們嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)估，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí)，我們還根據(jù)客戶的需求，提供個(gè)性化的檢測(cè)方案和報(bào)告，幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

檢測(cè)項(xiàng)目（參考）：

X射線照相檢驗(yàn)、內(nèi)部水汽含量、內(nèi)部目檢、可焊性、外部目檢、密封、引出端強(qiáng)度、引線涂覆附著力、掃描電子顯微鏡(SEM)檢查、物理尺寸、球柵陣列（BGA）試驗(yàn)方法、粒子碰撞噪聲檢測(cè)、耐溶劑性試驗(yàn)、耐焊接熱、芯片剪切強(qiáng)度、芯片粘接的超聲檢測(cè)、重量、鍵合強(qiáng)度、鍍層厚度、鍍層質(zhì)量

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一覽：

1、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法209

2、GJB 923A-2004 半導(dǎo)體分立器件外殼通用規(guī)范 3.5.3

3、GB/T 4937.22-2018 鍵合強(qiáng)度

4、GJB 7677-2012 球柵陣列（BGA）試驗(yàn)方法 GJB 7677-2012

5、SJ 20527A-2003 微波組件通用規(guī)范 4.6.4

6、GJB360A-1996 引出端強(qiáng)度

7、GJB2440A-2006 鍍層質(zhì)量

8、SJ 20527-1995 微波組件總規(guī)范 4.8.1

9、GJB923A-2004 半導(dǎo)體分立器件外殼通用規(guī)范 附錄A

10、GB/T4937.22-2018 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第22部分：鍵合強(qiáng)度 第22部分

11、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997

12、SJ20527A-2003 物理尺寸

13、SJ 20527A-2003 微波組件通用規(guī)范 SJ 20527A-2003

14、GJB360B-2009 X射線照相檢驗(yàn)

15、SJ 20527-1995 微波組件總規(guī)范 SJ 20527-1995

16、GB/T4937.14-2018 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第14部分：引出端強(qiáng)度 第14部分

17、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法2012.1

18、GJB548B-2005 X射線照相檢驗(yàn)

19、GJB 8481-2015 微波組件通用規(guī)范 4.11.4

20、GJB128A-1997 X射線照相檢驗(yàn)

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高?？蒲械?。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)時(shí)間周期

一般3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外），具體請(qǐng)咨詢客服。

檢測(cè)流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測(cè)內(nèi)容請(qǐng)咨詢客服。