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半導(dǎo)體集成電路外殼檢驗(yàn)測(cè)試機(jī)構(gòu)

2024-12-06

半導(dǎo)體集成電路外殼檢測(cè)測(cè)試哪些項(xiàng)目?檢測(cè)周期多久呢?檢測(cè)費(fèi)用是多少?我們嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)估,確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí),我們還根據(jù)客戶的需求,提供個(gè)性化的檢測(cè)方案和報(bào)告,幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)支持寄樣、上門(mén)檢測(cè),主要為公司、企業(yè)、事業(yè)單位、個(gè)體商戶、高校科研提供樣品檢測(cè)服務(wù),報(bào)告CMA/CNAS/CAL資質(zhì),真實(shí)有效。百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。

檢測(cè)項(xiàng)目(參考):

引線電阻、引線間電容、絕緣電阻、鍍層厚度、外形尺寸、可焊性 試驗(yàn)、密封、引線涂覆附著力、引線牢固性、恒定 加速度、溫度循環(huán)、熱沖擊(液體介質(zhì))、鹽霧 (腐蝕)、耐濕、芯片剪切強(qiáng)度(芯片粘附強(qiáng)度)、鍵合強(qiáng)度

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一覽:

1、GJB 1420A-1999 半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 GJB 1420A-1999

2、GJB 548A 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548A

3、GJB 1420B-2011 半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 3.8.3

4、GJB1420A-1999 絕緣電阻

5、GJB548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法2003A

6、GJB1420B-2011 半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 3.9.2

7、GJB 1420A-1999 半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 3.6.2

8、GJB 1420B-2011 半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 GJB 1420B-2011

9、GJB548A 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法1010A

10、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005

11、GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法2003.1

12、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548A-1996

檢測(cè)時(shí)間周期

一般3-10個(gè)工作日(特殊樣品除外),具體請(qǐng)咨詢(xún)客服。

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高??蒲械?。

如果您對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)和安全性能有嚴(yán)格要求,不妨考慮選擇我們的檢測(cè)服務(wù)。讓我們助您一臂之力,共創(chuàng)美好未來(lái)。

檢測(cè)流程

檢測(cè)流程

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考,更多其他檢測(cè)內(nèi)容請(qǐng)咨詢(xún)客服。

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