硅單晶檢測測試哪些項目？檢測周期多久呢？檢測費(fèi)用是多少？我們嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測和評估，確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時，我們還根據(jù)客戶的需求，提供個性化的檢測方案和報告，幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。百檢第三方檢測機(jī)構(gòu)支持寄樣、上門檢測，主要為公司、企業(yè)、事業(yè)單位、個體商戶、高?？蒲刑峁悠窓z測服務(wù)，報告CMA/CNAS/CAL資質(zhì)，真實有效。百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計檢測方案。

檢測項目（參考）：

部分參數(shù)、少數(shù)載流子壽命、氧含量、表面金屬、全部參數(shù)、碳含量、晶體完整性、直徑、晶向及晶向偏離度、徑向電阻率變化、電阻率、導(dǎo)電類型、部分項目、晶向、直徑及允許誤差、彎曲度、翹曲度、氧化誘生缺陷、表面質(zhì)量、厚度和總厚度變化、厚度與總厚度變化、微管密度、晶型、表面粗糙度、晶向及晶向離度、全部項目、硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定校準(zhǔn)、主參考面晶向

檢測標(biāo)準(zhǔn)一覽：

1、GB/T 12965-2005 《硅單晶切割片和研磨片》

2、GB/T 1554-2009 硅晶體完整性化學(xué)擇優(yōu)腐蝕檢驗方法

3、SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度測試方法 5. 原子力顯微鏡法

4、GB/T 30866-2014 碳化硅單晶片直徑測試方法

5、GB/T 1551-2009 硅單晶電阻率測定方法

6、GB/T 25076-2018 太陽電池用硅單晶 6.2

7、GB/T 30867-2014 碳化硅單晶片厚度和總厚度變化測試方法 GB/T 30867-2014

8、SEMI PV43-0113 太陽能電池用硅材料中氧含量的測試 惰性氣體熔融紅外法

9、JJF 1760 硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片校準(zhǔn)規(guī)范

10、GB/T12962-2015 硅單晶

11、GB/T 14140-2009 硅片直徑測量方法

12、GB/T12965-2018 硅單晶切割片和研磨片

13、GB/T 1550-2018 非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型測試方法

14、SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測試方法 SJ/T 11503-2015

15、GB/T 31351-2014 碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

16、GB/T 12964-2003 直徑

17、GB/T12964-2018 硅單晶拋光片

18、SJ/T11504-2015 碳化硅單晶拋光片表面質(zhì)量的測試方法

19、GB/T 12962-2015 硅單晶

20、GB/T 12965-2018 硅單晶切割片和研磨片

檢測報告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高?？蒲械?。

檢測報告有效期

一般檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。

檢測時間周期

一般3-10個工作日（特殊樣品除外），具體請咨詢客服。

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。