區(qū)域地球化學(xué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)
2024-11-28
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鉛、鎘、六價(jià)鉻、汞、鉛、鎘、汞、鉻、溴、鉛、汞、鎘、鉻、鉻
1、IEC 62321-2:2013 電工制品中特定物質(zhì)的測(cè)定 第2部分:拆卸、拆解和機(jī)械拆分
2、SN/T 2004.4-2006(2010) 電子電氣產(chǎn)品中鉛、鎘、鉻、汞的測(cè)定 第4部分:電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
3、GB/T 26125- 2011 電子電氣產(chǎn)品 六種限制物質(zhì)(鉛、汞、鎘、鉻、多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚)的測(cè)定 GB/T 26125- 2011
4、GB/T 26572-2011 電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)的限量要求
5、IEC 62321-5:2013 電子產(chǎn)品特定有害物質(zhì)測(cè)定 第5部分:使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS確定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻、以及金屬中的鎘和鉛 5
6、GB/T 26125-2011 電子電氣產(chǎn)品 六種限用物質(zhì)(鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚)的測(cè)定 9
7、IEC 62321-4:2013 /AMD1:2017 電子產(chǎn)品特定有害物質(zhì)測(cè)定 第4部分:使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測(cè)定聚合物、金屬和電子材料中的汞 IEC 62321-4:2013 /AMD1:2017
8、IEC 62321-3-1:2013 電子產(chǎn)品特定有害物質(zhì)測(cè)定 第3-1部分:使用X射線熒光光譜儀對(duì)電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴進(jìn)行篩選 IEC 62321-3-1:2013
9、IEC 62321-7-1:2015 電子產(chǎn)品特定有害物質(zhì)測(cè)定 第7部分:使用比色法確定電子產(chǎn)品金屬表面無(wú)色和有色防腐鍍層六價(jià)鉻的存在 IEC 62321-7-1:2015
10、IEC 62321-3-1:2013 電工制品中特定物質(zhì)的測(cè)定 第3-1部分:通過X射線熒光光譜法篩選特定物質(zhì)中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴
11、IEC 62321-4:2013 /AMD1:2017 電子產(chǎn)品特定有害物質(zhì)測(cè)定 第4部分:使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測(cè)定聚合物、金屬和電子材料中的汞 6
12、SN/T 2003.3-2006(2010) 鉻
13、IEC 62321-7-1:2015 電子產(chǎn)品特定有害物質(zhì)測(cè)定 第7部分:使用比色法確定電子產(chǎn)品金屬表面無(wú)色和有色防腐鍍層六價(jià)鉻的存在 7
14、SN/T2003.3-2006(2010) 電子電氣產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、鉻和溴的測(cè)定 第3部分:X射線熒光光譜定量篩選法
15、GB/T 26125- 2011 電子電氣產(chǎn)品 六種限制物質(zhì)(鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚)的測(cè)定 附錄B
16、IEC 62321-5:2013 電子產(chǎn)品特定有害物質(zhì)測(cè)定 第5部分:使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS確定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻、以及金屬中的鎘和鉛 IEC 62321-5:2013
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一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來(lái)說(shuō)只要測(cè)試沒更新,測(cè)試不變檢測(cè)報(bào)告一直有效。如果是用于過電商平臺(tái),一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺(tái)或買家的要求。
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